天九国际手机版首t900

产品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

产品展示

分立器件间歇寿命老化测试系统

符合标准:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。

适用范围:

适合各种封装形式的场效应管、IGBT单管、二极管、三极管间歇寿命试验。

技术特点:

更换测试母板,可以满足不同的试验电路、不同的器件试验。

每个回路加热电流IH、测试电路Im独立程序控制。

监控每颗器件的△TJ或者TJ。

可兼容稳态寿命和间歇寿命试验。


技术性能

表格 p31.png

天9国际手机首页登录-天九国际手机版首t900-首頁请进