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二极管恒流老化测试系统(并联)

符合标准:

MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的中、小功率二极管稳态寿命试验(CFOL)和间歇寿命试验(IFOL)。

技术特点:

试验电流恒定,试验参数采用电脑程控设定。

一板一区,可满足多种试验电流的老化试验。

每个试验通道11路恒流电子负载,可并联增加试验电流。

可同时满足稳态(CFOL)和间歇(IFOL)寿命老化试验。


技术性能

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